용어검색/반도체에지 박리Edge flaking에지 박리는 웨이퍼 가장자리의 막이나 잔류물이 떨어져 나오는 현상이다.웨이퍼웨이퍼는 여러 개의 반도체 다이를 한꺼번에 만드는 얇은 기판이다.용어 상세 ↗정의 복사관련 학습 ↓설명떨어진 조각은 다른 영역의 입자 원천이 될 수 있다. 전면에서 관측한 입자가 에지에서 이동했는지 이력을 확인한다.예시특정 막 공정 이후 전면 입자와 에지 잔류가 함께 늘면 재료 성분과 후속 취급을 대조한다.구분결함을 발견한 위치와 생성 원천의 위치를 나누어 본다.함께 배우는 용어웨이퍼↗웨이퍼는 여러 개의 반도체 다이를 한꺼번에 만드는 얇은 기판이다.단락↗단락은 분리되어야 할 전기 경로 사이에 의도하지 않은 낮은 저항의 연결이 생긴 상태다.전기 테스트↗전기 테스트는 전압·전류·신호를 인가하여 회로의 특성이나 기능을 확인하는 활동이다.이전 용어← 후면 오염다음 용어웨이퍼 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개