용어검색/전자제조오검False CallFP오검은 참조 판정상 적합인 대상을 자동 검사가 부적합 의심으로 표시한 경우다.정의 복사관련 학습 ↓설명조명·정합·정상 변동·조건 설정 등 원인은 다양하다. 오검을 줄일 때 실제 결함 검출 유지 여부를 함께 봐야 한다.정상 변동정상 변동은 허용된 제품과 공정 범위 안에서 나타나는 외관·치수·재료 특성의 변화다.용어 상세 ↗예시정상 부품의 마킹 위치 변동 때문에 콜이 늘면 허용 변동과 표식 검출 조건을 확인한다.구분불량 검사를 통째로 끄는 방식으로 오검을 줄이지 않는다.함께 배우는 용어정상 변동↗정상 변동은 허용된 제품과 공정 범위 안에서 나타나는 외관·치수·재료 특성의 변화다.AOI↗AOI는 조명과 카메라로 얻은 광학 정보를 이용해 부품 실장 상태와 보이는 접합 특징을 자동으로 검사하는 방법이다.수용기준↗수용기준은 제품의 특징을 어떤 조건에서 적합·부적합으로 판단할지 정한 규칙이다.이전 용어← 검사 콜다음 용어미검 →전자제조 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구L0전자제조 시작10무료학습 10개L1SMT Assembly오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Soldering · Reflow오픈 30% · 27,300원학습 30개L1AOI · X-ray Inspection오픈 30% · 27,300원학습 30개L1ICT · FCT Test오픈 30% · 27,300원학습 30개