공정능력지수 Cpk

관측값들을 모두 더해 데이터 개수로 나눈 산술평균으로, 공정 데이터의 중심 위치를 요약하는 가장 기본적인 통계량.

공정의 전체 규격 폭을 공정의 자연 변동 폭과 비교하는 공정능력 지수로, 공정 평균이 규격 중앙에서 벗어났는지는 반영하지 않는다.

반도체 패턴에서 성능과 공정 허용오차에 중요해 관리되는 선폭·간격 같은 핵심 치수.

데이터가 어떤 값 주변에 얼마나 자주 나타나고 얼마나 퍼져 있는지를 전체적으로 나타내는 형태.

관측값들을 모두 더해 데이터 개수로 나눈 산술평균으로, 공정 데이터의 중심 위치를 요약하는 가장 기본적인 통계량.

제품이나 공정 규격에서 허용하는 값의 상한입니다.

공정의 전체 규격 폭을 공정의 자연 변동 폭과 비교하는 공정능력 지수로, 공정 평균이 규격 중앙에서 벗어났는지는 반영하지 않는다.

제품이나 공정 규격에서 허용하는 값의 하한입니다.

관측값들을 모두 더해 데이터 개수로 나눈 산술평균으로, 공정 데이터의 중심 위치를 요약하는 가장 기본적인 통계량.

공정의 전체 규격 폭을 공정의 자연 변동 폭과 비교하는 공정능력 지수로, 공정 평균이 규격 중앙에서 벗어났는지는 반영하지 않는다.