웨이퍼 맵
Wafer map
맵은 웨이퍼 좌표별 의 시험·분류 정보를 기록한 자료이다.
설명
후공정에서 어떤 를 사용할지 판단하고 공간적 불량 분포를 분석하는 데 쓰인다. 좌표 방향과 다이 식별이 실제 와 맞아야 한다.
예시
맵의 기준 방향이 뒤집히면 정상 를 잘못 선택할 수 있다. 전기적 데이터의 품질뿐 아니라 좌표와 물리적 식별의 일치가 필요하다.
구분
맵은 분석 그림인 동시에 선택에 사용되는 위치 정보이다.
Wafer map
맵은 웨이퍼 좌표별 의 시험·분류 정보를 기록한 자료이다.
후공정에서 어떤 를 사용할지 판단하고 공간적 불량 분포를 분석하는 데 쓰인다. 좌표 방향과 다이 식별이 실제 와 맞아야 한다.
맵의 기준 방향이 뒤집히면 정상 를 잘못 선택할 수 있다. 전기적 데이터의 품질뿐 아니라 좌표와 물리적 식별의 일치가 필요하다.
맵은 분석 그림인 동시에 선택에 사용되는 위치 정보이다.