설명
프로버는 테스터가 아니라 웨이퍼 취급과 positioning을 담당하며 테스트 결과 기반 웨이퍼 mapping에도 연결된다.
여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗예시
프로버가 웨이퍼를 이동해 다음 를 아래에 정렬하고 접촉시킨다.
관련 용어: 프로브 카드 / /
여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗웨이퍼 위에 만들어진 개별 집적회로 단위. 웨이퍼를 웨이퍼 다이싱하면 각각의 다이로 분리된다.
용어 상세 ↗웨이퍼 테스트에서 테스터 신호를 다수의 프로브 needle/콘택트를 통해 다이 패드에 전달하고 응답을 다시 테스터로 연결하는 정밀 테스트 인터페이스.
용어 상세 ↗반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗웨이퍼 위의 다이·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
용어 상세 ↗구분
프로버는 웨이퍼를 움직이고 접촉시키며 는 실제 전기 자극 신호와 측정을 수행한다.
여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗