불량 위치 매핑
Defect Location Mapping
불량 위치 매핑은 서로 다른 검사 공정의 결과를 동일 실물의 동일 위치로 연결하는 작업이다.
설명
기판 ID·패널 위치·부품·핀과 공정 시점이 일치해야 한다. 단순히 같은 시간대 결과를 묶으면 다른 보드를 비교할 수 있다.
예시
의 보드2 U5와 의 보드3 U5를 연결하면 존재하지 않는 을 만들 수 있다.
구분
데이터를 분석하기 전에 식별과 좌표 대응을 확인한다.
Defect Location Mapping
불량 위치 매핑은 서로 다른 검사 공정의 결과를 동일 실물의 동일 위치로 연결하는 작업이다.
기판 ID·패널 위치·부품·핀과 공정 시점이 일치해야 한다. 단순히 같은 시간대 결과를 묶으면 다른 보드를 비교할 수 있다.
의 보드2 U5와 의 보드3 U5를 연결하면 존재하지 않는 을 만들 수 있다.
데이터를 분석하기 전에 식별과 좌표 대응을 확인한다.