DFT
Design for Test
Design for Testability
DFT는 제조 후 회로를 시험하기 쉽도록 설계 단계에서 시험용 구조와 제어 기능을 넣는 방법이다.
설명
외부 핀만으로 만들기 어려운 내부 상태를 설정하고 내부 결과를 밖에서 읽게 한다. 기능 설계와 별개로 붙이는 파일이 아니라 칩 구조에도 영향을 준다.
예시
과 메모리 자체 시험 회로가 대표적이다. 시험 접근성이 좋아져도 필요한 패턴과 조건이 없으면 결함을 검출하지 못한다.
구분
시험 가능성은 설계 구조와 시험 프로그램이 함께 만든다.