DUT
Device Under Test
DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.
설명
웨이퍼 위 다이 하나와 패키지 한 개는 모두 DUT가 될 수 있지만 접근 가능한 단자와 전원 경로는 다르다. 시험 대상의 경계가 바뀌면 포함되는 결함 범위도 달라진다.
예시
패키지 전원 핀에서 측정한 전압에는 과 배선의 영향이 섞일 수 있다. 측정기가 표시한 값을 곧바로 칩 내부 전압이라고 부르지 않는다.
구분
대상의 경계와 측정 위치를 먼저 정해야 결과를 해석할 수 있다.