반도체 테스트
Semiconductor test
반도체 시험
반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.
설명
현미경으로 모양만 보는 검사와 달리 전압, 전류, 논리값, 시간 같은 전기적 정보를 직접 다룬다. 눈에 보이지 않는 단선이나 지연도 응답 차이로 드러날 수 있다.
예시
같은 칩도 공급 전압과 온도, 입력 순서가 달라지면 결과가 달라질 수 있다. 따라서 결과에는 시험 조건을 함께 남긴다.
구분
무엇을 넣고 무엇을 읽었으며 어떤 기준으로 판정했는지를 한 묶음으로 기억한다.