용어검색/반도체분포 꼬리Distribution tail팩별 설명반도체 수율·불량 L1반도체 소자 L2분포 꼬리는 중심에서 멀리 떨어진 작은 비율의 값들이 있는 영역이다.정의 복사관련 학습 ↓설명불량률이 낮은 공정에서는 꼬리의 변화가 중요할 수 있다. 중심이 거의 같아도 극단값이 늘면 규격 이탈이 증가한다.예시대부분 칩의 누설은 같아도 일부 칩만 크게 증가했다면 평균만 보는 대시보드에서 변화가 희석될 수 있다.구분소수의 극단값을 평균 속에 숨기지 않는다.함께 배우는 용어유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.결함 검사↗결함 검사는 정해진 영역에서 이상 신호나 구조를 찾아 후보 위치를 추출하는 활동이다.이전 용어← 정규분포 가정다음 용어혼합 분포 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개