웨이퍼 전기검사 수율
Wafer test yield
전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.
설명
프로브로 다이에 접촉해 전기 조건을 인가하고 결과를 판단한다. 접촉 실패와 실제 칩 불량이 섞이지 않도록 시험 상태도 기록한다.
예시
유효 다이 800개 중 시험 완료 790개, 합격 750개라면 시험 완료 기준은 750/790이다. 유효 다이 전체 기준과 미시험 10개를 별도로 표시한다.
구분
시험 완료 기준인지 전체 유효 대상 기준인지 이름에 드러낸다.