용어검색/반도체불량 시그니처Failure signature팩별 설명반도체 수율·불량 L1반도체 테스트 L1불량 시그니처는 불량이 반복해서 보이는 위치·시험 항목·조건·형태의 특징 조합이다.정의 복사관련 학습 ↓설명웨이퍼 가장자리, 특정 빈, 고온에서만 증가 같은 정보를 묶으면 원인 후보를 효율적으로 좁힐 수 있다.웨이퍼웨이퍼는 여러 개의 반도체 다이를 한꺼번에 만드는 얇은 기판이다.용어 상세 ↗예시가장자리 누설 증가와 특정 챔버 이력이 함께 나타나면 두 특징을 공유하지 않는 정상군도 비교한다. 특징 일치는 가설의 출발점이다.구분시그니처는 원인 이름이 아니라 증거를 묶는 표식이다.함께 배우는 용어웨이퍼↗웨이퍼는 여러 개의 반도체 다이를 한꺼번에 만드는 얇은 기판이다.수율↗수율은 정해진 평가 대상 중 정해진 합격 기준을 만족한 대상의 비율이다.로트↗로트는 제조와 추적을 위해 함께 관리하는 웨이퍼나 제품의 묶음이다.이전 용어← 잠재 결함다음 용어웨이퍼 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개