용어검색/반도체오경보와 미탐지False alarm and missed detection팩별 설명Fab 자동화·MES L1반도체 장비 L2오경보는 정상 상태를 이상으로 알린 경우이고 미탐지는 실제 이상을 놓친 경우다.정의 복사관련 학습 ↓설명경보를 늘리거나 줄이는 것만으로 품질이 항상 개선되는 것은 아니다. 실제 영향과 검증 자료를 함께 평가한다.예시경보가 많다는 이유로 기준을 무조건 넓히면 중요한 이상을 놓칠 수 있다.구분경보 수와 탐지 품질을 동일한 지표로 보지 않는다.함께 배우는 용어FDC↗FDC는 설비·공정 신호를 이용해 이상을 탐지하고, 구현에 따라 이상 유형을 분류하는 기능이다.lot↗lot은 정해진 생산·추적 규칙에 따라 함께 관리하는 제조 대상의 묶음이다.wafer↗wafer는 반도체 소자 제조에 사용되는 얇은 기판으로, lot 내부에서도 개별 추적 대상이 될 수 있다.이전 용어← 탐지 규칙과 모델다음 용어센서 데이터 품질 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개