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일렉트로마이그레이션

Electromigration

팩별 설명

일렉트로마이그레이션은 전류가 흐르는 금속에서 원자 이동이 누적되어 배선 형상이 변하는 현상이다.

설명

일부에 빈 공간이 커지면 저항 상승이나 이, 다른 곳의 축적은 구조 변형을 만들 수 있다. 전류밀도와 온도는 중요한 영향 변수다.

단선

단선은 원래 이어져야 할 전기 경로가 끊어지거나 기능을 못 할 정도로 저항이 커진 상태다.

같은 전류라도 배선 단면적이 작으면 전류밀도가 커진다. 초기 저항 합격만으로 장시간 전류 스트레스의 여유를 보장하지 않는다.

EM은 전류·온도·배선 구조가 함께 작용하는 누적 손상으로 이해한다.

단선은 원래 이어져야 할 전기 경로가 끊어지거나 기능을 못 할 정도로 저항이 커진 상태다.

고장 메커니즘은 결함이나 스트레스가 기능 상실로 이어지는 물리적·화학적 과정이다.

랜덤 결함은 개별 발생 위치를 일정 패턴으로 예측하기 어려운 결함을 가리킨다.