Cpk
Process capability index Cpk
Cpk는 공정 평균에서 더 가까운 규격한계까지의 거리를 3σ로 나누어 평균의 치우침까지 반영하는 공정능력 지수이다.
설명
양측 규격에서는 위쪽과 아래쪽의 값을 계산해 작은 쪽을 사용한다. 같은 산포라도 평균이 한쪽 한계에 가까워지면 Cpk는 낮아진다.
예시
규격 90~110 nm, 평균 104 nm, σ 2 nm이면 가까운 위쪽 여유는 6 nm이므로 Cpk는 1.0이다. 같은 조건의 약 1.67보다 평균 이동의 위험이 드러난다.
구분
Cpk는 가까운 규격 쪽의 여유를 보며 안정성과 측정 신뢰성을 전제로 해석한다.