웨이퍼 맵
Wafer Map
위의 ·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
설명
테스트··불량 분석에서는 불량이 어디에 몰리는지 공간 을 보는 데 활용한다.
예시
맵에서 가장자리나 특정 방향에 불량 가 집중되는 을 확인할 수 있다. 관련 용어: 다이 / / /
구분
맵은 웨이퍼의 물리 사진 자체가 아니라 좌표 기반 제조·검사 데이터 표현이다.
Wafer Map
위의 ·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
테스트··불량 분석에서는 불량이 어디에 몰리는지 공간 을 보는 데 활용한다.
맵에서 가장자리나 특정 방향에 불량 가 집중되는 을 확인할 수 있다. 관련 용어: 다이 / / /
맵은 웨이퍼의 물리 사진 자체가 아니라 좌표 기반 제조·검사 데이터 표현이다.