설명
파라메트릭 테스트는 '작동하느냐'보다 수치 특성이 규격 안에 있는지 보는 성격이 강하다.
예시
의 측정 유닛으로 핀 누설과 임계값 관련 전기적 파라미터를 측정한다.
관련 용어: / / 자동화 반도체 테스트 장비
반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗MOSFET 채널의 한쪽 단자로, 소자 편향에 따라 캐리어가 채널로 공급되는 쪽으로 정의된다.
용어 상세 ↗소자에 실제 동작과 유사한 디지털/analog 테스트 패턴을 적용해 설계된 기능이 정상적으로 수행되는지 확인하는 시험.
용어 상세 ↗제품이나 공정 결과가 반드시 만족해야 하는 허용 요구조건이나 한계. 측정값을 USL/LSL 같은 규격 한계와 비교해 합격 여부를 판단한다.
용어 상세 ↗구분
파라메트릭 테스트는 수치적 전기적 특성 중심이고 는 소자가 의도한 function을 수행하는지 확인한다.
소자에 실제 동작과 유사한 디지털/analog 테스트 패턴을 적용해 설계된 기능이 정상적으로 수행되는지 확인하는 시험.
용어 상세 ↗