설명
소켓 콘택트 , 신호 무결성, 내구성, 열 설계는 고속·고전력 정확도와 에 영향을 준다.
전류의 흐름을 방해하는 정도를 나타내는 전기적 성질.
용어 상세 ↗출하 전 패키징된 소자가 규격과 기능 요구를 만족하는지 최종적으로 확인하고 성능/등급 정보를 결정하는 생산 테스트.
용어 상세 ↗일정 시간 동안 공정·장비·공장이 처리하거나 완료할 수 있는 웨이퍼, 웨이퍼 로트, 단위의 수.
용어 상세 ↗예시
핸들러가 패키지를 테스트 소켓에 눌러 접촉시키면 가 핀을 통해 테스트 과 측정을 수행한다.
관련 용어: / 자동화 반도체 테스트 장비 /
반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗패키징된 반도체 소자를 테스트 소켓으로 자동 공급·정렬하고 온도를 제어하며 테스트 결과에 따라 합격/불합격/등급으로 분류하는 장비.
용어 상세 ↗웨이퍼 테스트에서 테스터 신호를 다수의 프로브 needle/콘택트를 통해 다이 패드에 전달하고 응답을 다시 테스터로 연결하는 정밀 테스트 인터페이스.
용어 상세 ↗구분
테스트 소켓은 패키징된 소자용 콘택트 인터페이스이고 는 다이용 콘택트 인터페이스다.
웨이퍼 테스트에서 테스터 신호를 다수의 프로브 needle/콘택트를 통해 다이 패드에 전달하고 응답을 다시 테스터로 연결하는 정밀 테스트 인터페이스.
용어 상세 ↗여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗