품질·신뢰성(Q&R)

정해진 사용 조건과 기간 동안 제품·소자·장비가 요구 기능을 고장 없이 수행할 가능성과 그 성능을 평가하는 개념.

여러 다이를 인터포저나 브리지 같은 중간 연결 구조 위에 나란히 배치해 연결하는 집적 방식입니다.

칩을 생산한 뒤 결함을 더 쉽게 검사할 수 있도록 설계 단계에서 테스트 구조를 넣는 방법입니다.