스캔 플립플롭
Scan flip-flop
스캔 플립플롭은 정상 동작용 입력과 시험 시프트용 입력을 선택할 수 있도록 구성한 저장 소자다.
설명
정상 모드에서는 회로 상태를 저장하고 스캔 모드에서는 앞 소자의 데이터를 차례로 전달한다. 모든 저장 소자가 반드시 스캔으로 바뀌는 것은 아니다.
예시
시험 모드 신호가 잘못되면 정상 논리 동작 대신 가 일어날 수 있다. 모드 전환 조건을 확인한다.
구분
하나의 저장 소자가 정상 경로와 시험 경로를 선택한다.