스캔 전력
Scan test power
스캔 전력은 와 동안 시험 동작으로 소비되는 전력이다.
설명
많은 내부 노드가 동시에 바뀌면 전원 강하나 발열이 커질 수 있다. 기능 동작의 평균 전력이 낮아도 시험 전력이 낮다고 보장되지 않는다.
예시
전원 공급이 부족해 생긴 실패를 제조 결함으로 확정하지 않는다. 승인된 전력 제약과 실제 공급 조건을 대조한다.
구분
시험 자체가 만드는 전기·열 부하도 시험 조건이다.
Scan test power
스캔 전력은 와 동안 시험 동작으로 소비되는 전력이다.
많은 내부 노드가 동시에 바뀌면 전원 강하나 발열이 커질 수 있다. 기능 동작의 평균 전력이 낮아도 시험 전력이 낮다고 보장되지 않는다.
전원 공급이 부족해 생긴 실패를 제조 결함으로 확정하지 않는다. 승인된 전력 제약과 실제 공급 조건을 대조한다.
시험 자체가 만드는 전기·열 부하도 시험 조건이다.