SEM
Scanning Electron Microscope
주사전자현미경
전자빔으로 표면을 매우 크게 확대해 관찰하는 주사전자현미경입니다. 에서는 미세 치수와 을 확인하는 데 사용됩니다.
전기전도도가 도체와 절연체의 중간 정도인 물질. 산업 문맥에서는 이런 물질로 만든 IC와 관련 기술·산업까지 넓게 가리키기도 한다.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗패턴·막·전기특성 등에서 정상 기대상태와 달라 제품 성능이나 수율에 악영향을 줄 수 있는 이상.
용어 상세 ↗