용어검색/반도체특별 원인 변동Special-cause variation팩별 설명반도체 수율·불량 L1Fab 자동화·MES L1반도체 공정 L2특별 원인 변동은 평소 공정시스템과 구별되는 사건이나 변화가 만들어낸 변동이다.정의 복사관련 학습 ↓설명부품 파손, 설정 변경, 재료 이상 등이 후보지만 관리도 신호만으로 특정 사건을 확정할 수는 없다.예시정비 직후 평균이 이동했다면 설정·부품·측정계의 변경 여부를 함께 조사한다.구분특별 원인 신호가 보이면 사건과 시간 관계를 확인한다.함께 배우는 용어조립 수율↗조립 수율은 조립 공정에 투입한 대상 중 정해진 조립 완료 기준을 만족한 대상의 비율이다.최종 시험 수율↗최종 시험 수율은 패키지 등 최종 시험 대상 중 선언한 전기 시험 기준에 합격한 비율이다.누적 수율↗누적 수율은 연속된 공정 경계를 모두 지난 합격 수를 최초 투입 수로 나눈 비율이다.이전 용어← 공통 원인 변동다음 용어관리한계 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개