용어검색/반도체층별 분석Stratification팩별 설명반도체 수율·불량 L1반도체 테스트 L1Fab 자동화·MES L1층별 분석은 제품·챔버·시간·위치 같은 공통 조건으로 데이터를 나누어 비교하는 방법이다.정의 복사관련 학습 ↓설명전체에서 숨겨진 차이를 드러내지만 지나치게 잘게 나누면 표본이 작아진다. 충분한 표본과 비교 목적을 함께 고려한다.예시같은 장비에서 한 챔버만 불량이 늘면 장비 평균보다 챔버별 결과가 조사에 유용하다. 제품 배정 차이도 확인한다.구분분해 수준은 원인 가설과 데이터 양에 맞춘다.함께 배우는 용어초회 통과 수율↗초회 통과 수율은 재시험이나 재작업 없이 첫 평가에서 합격한 고유 대상의 비율이다.킬러 결함↗킬러 결함은 해당 회로에서 기능이나 요구 특성을 잃게 만드는 치명적인 결함이다.공정 경로↗공정 경로는 제품이 거치는 공정 단계와 순서의 정의다.이전 용어← 노출량 보정다음 용어교란변수 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개