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시험 한계

Test limit

시험 한계는 실제 시험 프로그램이 측정값의 합격·불합격을 결정할 때 사용하는 경계값이다.

설명

제품 사양, , 다른 조건과의 상관성을 고려해 정한다. 한계와 같을 수도 있고 승인된 여유를 두어 더 좁힐 수도 있다.

측정 불확도

측정 불확도는 사용한 정보에 근거하여 측정량에 귀속되는 값들의 퍼짐을 나타내는 매개변수다.

데이터시트

데이터시트는 제품의 기능, 단자, 동작 조건, 전기적 특성 등을 정리한 제조사 기술 문서다.

사양 상한보다 낮은 시험 한계를 사용했다면 그 이유와 적용 조건이 기록되어야 한다. 현장에서 수율만 보고 임의 완화하지 않는다.

시험 한계는 제품 사양을 지키기 위한 관리된 기준이다.

측정 불확도는 사용한 정보에 근거하여 측정량에 귀속되는 값들의 퍼짐을 나타내는 매개변수다.

데이터시트는 제품의 기능, 단자, 동작 조건, 전기적 특성 등을 정리한 제조사 기술 문서다.

반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.