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테스트 패턴

Test pattern

테스트 패턴은 시간 순서에 따른 입력 자극과 출력 기대값을 정리한 시험 데이터다.

설명

핀 순서, 구동 방향, 논리 레벨, 타이밍 설정과 함께 실행되어야 의미가 완성된다. 파일의 비트열만 같다고 동일한 시험은 아니다.

입력 핀과 출력 핀의 열이 바뀌면 의도하지 않은 신호를 가할 수 있다. 패턴 변환 후 을 확인한다.

핀맵

핀맵은 DUT 핀·신호 이름과 장비 채널·사이트 자원의 대응을 정리한 정보다.

패턴··레벨·타이밍을 하나의 실행 조건으로 관리한다.

핀맵

핀맵은 DUT 핀·신호 이름과 장비 채널·사이트 자원의 대응을 정리한 정보다.

핀맵은 DUT 핀·신호 이름과 장비 채널·사이트 자원의 대응을 정리한 정보다.

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

불량 유출은 요구사항을 만족하지 못하는 제품이 시험에서 걸러지지 않고 다음 단계로 넘어가는 현상이다.