설명
프로브 카드는 제품 핀 , 병렬 테스트 능력, 온도, 신호 무결성 요구에 따라 종류가 달라진다.
주기적으로 반복되는 패턴에서 한 기준점부터 다음 같은 기준점까지의 반복 간격.
용어 상세 ↗예시
테스트에서 프로브 카드가 여러 패드에 동시에 접촉해 높은 병렬 테스트 능력으로 테스트한다.
관련 용어: / / /
빠른 읽기·쓰기에 쓰이는 대표적인 휘발성 메모리. 전원이 공급되는 동안에도 저장 전하를 유지하기 위해 주기적인 리프레시가 필요하다.
용어 상세 ↗여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗웨이퍼 위에 만들어진 개별 집적회로 단위. 웨이퍼를 웨이퍼 다이싱하면 각각의 다이로 분리된다.
용어 상세 ↗웨이퍼를 정밀하게 이동·정렬하고 온도를 제어하며 프로브 카드와 각 다이가 정확히 접촉하도록 해 웨이퍼-수준 테스트를 자동화하는 장비.
용어 상세 ↗반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗웨이퍼 상태에서 개별 다이를 프로브해 전기적 성능을 검사하고 합격/불합격 또는 등급 정보를 웨이퍼 맵에 기록하는 생산 테스트 단계.
용어 상세 ↗트랜지스터의 소스, 드레인, 게이트 같은 소자 단자를 첫 로컬 칩 내부 배선 또는 상부 금속배선과 전기적으로 연결하는 접촉 구조.
용어 상세 ↗구분
프로브 카드는 전기적 접촉 인터페이스이고 는 위치·온도·이동을 제어하는 장비다.
웨이퍼를 정밀하게 이동·정렬하고 온도를 제어하며 프로브 카드와 각 다이가 정확히 접촉하도록 해 웨이퍼-수준 테스트를 자동화하는 장비.
용어 상세 ↗여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗