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ATE

Automatic Test Equipment

팩별 설명

ATE는 프로그램에 따라 에 신호와 전원을 인가하고 응답을 측정·판정하는 자동 시험 장비다.

DUT

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

설명

디지털 채널, 전원, 아날로그 계측기 등 필요한 자원을 결합한다. 제품이 요구하는 핀 수·전압·속도·정확도와 장비 자원의 조합을 맞춘다.

핀 수가 충분해도 정밀 전류 측정 자원이 부족하면 요구한 병렬 수로 시험하지 못할 수 있다.

채널 개수만 아니라 각 자원의 기능과 공유 방식을 확인한다.

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.

파라미터 시험은 전압·전류·저항·시간 등 전기적 특성을 수치로 측정하여 기준과 비교하는 시험이다.