용어검색/반도체공통 이력 분석Commonality analysis공통 이력 분석은 불량 집단이 공유하는 장비·재료·시간대 등을 정상 집단과 대조하는 방법이다.정의 복사관련 학습 ↓설명노출 빈도와 제품 구성이 다르면 단순 불량 개수 비교가 편향된다. 공통점은 관련성을 보여주며 인과 확정에는 추가 비교가 필요하다.예시많이 사용한 장비에서 불량 수가 많다는 이유만으로 장비가 더 나쁘다고 단정하지 않는다.구분해당 장비를 거친 전체 대상과 비교 가능한 집단을 확인한다.함께 배우는 용어공정 통합↗공정 통합은 여러 단위공정의 순서·재료·형상을 조정하여 최종 소자와 배선의 요구특성을 함께 만족시키는 활동이다.공정 윈도우↗공정 윈도우는 정한 품질 조건을 동시에 만족하는 입력변수 조합의 범위다.산화 응력↗산화 응력은 산화에 따른 부피 변화와 주변 구조의 구속으로 생기는 기계적 응력이다.이전 용어← 공정 계보다음 용어웨이퍼 맵과 빈 맵 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개