설명
팹 데이터에서 상관관계는 근본 원인 가설을 좁히는 데 유용하지만 그 자체가 인과관계를 증명하지는 않는다.
예시
챔버 압력이 높을수록 가 커지는 scatter 이 보이면 상관관계를 추가 분석한다.
관련 용어: /
포토레지스트나 하드마스크로 보호되지 않은 영역의 재료를 선택적으로 제거해 웨이퍼에 실제 3차원 패턴을 만드는 공정.
용어 상세 ↗반도체 패턴에서 성능과 공정 허용오차에 중요해 관리되는 선폭·간격 같은 핵심 치수.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗여러 요인을 계획적으로 변화시키고 반응을 측정해 어떤 요인과 상호작용이 결과에 영향을 주는지 효율적으로 판단하는 통계적 실험 설계 방법.
용어 상세 ↗문제를 직접 유발하거나 재발을 가능하게 한 가장 근본적인 원인으로, 제거·통제하면 같은 문제의 반복 가능성을 낮출 수 있는 원인.
용어 상세 ↗구분
상관관계는 연관성이고 인과관계는 원인-결과 관계이므로 나 원리 검증이 추가로 필요하다.
여러 요인을 계획적으로 변화시키고 반응을 측정해 어떤 요인과 상호작용이 결과에 영향을 주는지 효율적으로 판단하는 통계적 실험 설계 방법.
용어 상세 ↗