설명
로직, 메모리, 인터페이스 block이 규격에 맞게 동작하는지 테스트 프로그램으로 검증하며 파라메트릭 측정과 함께 사용된다.
예시
에 디지털 테스트 을 넣어 arithmetic, 인터페이스, 메모리 제어 기능의 합격/불합격을 확인한다.
관련 용어: /
CPU, 메모리 인터페이스, 주변 기능 등 시스템의 여러 기능을 하나의 칩에 통합한 고집적 반도체.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗소자 핀이나 테스트 구조의 전압, 전류, 누설, 저항, 타이밍 등 정량적 전기적 파라미터가 규정 범위 안인지 측정하는 시험.
용어 상세 ↗반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗구분
기능 테스트는 동작 기능 중심이고 는 · 같은 수치 파라미터 중심이다.
소자 핀이나 테스트 구조의 전압, 전류, 누설, 저항, 타이밍 등 정량적 전기적 파라미터가 규정 범위 안인지 측정하는 시험.
용어 상세 ↗두 지점 사이의 전기적 전위차. 전류가 흐르도록 만드는 구동 조건으로 이해할 수 있으며 단위는 볼트(V)다.
용어 상세 ↗전하가 이동하는 흐름. 회로에서 얼마나 많은 전하가 흐르는지를 나타내며 단위는 암페어(A)다.
용어 상세 ↗