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기능 시험

Functional test

기능 테스트

팩별 설명

기능 시험은 정해진 입력에 대해 가 요구된 동작과 출력을 수행하는지 확인하는 시험이다.

DUT

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

설명

명령 실행, 데이터 전송, 읽기·쓰기 같은 동작을 사용한다. 통과한 동작 경로 밖의 모든 내부 회로까지 검증되었다는 뜻은 아니다.

덧셈 명령이 맞아도 메모리의 모든 주소나 모든 속도 조건이 확인된 것은 아니다. 확인한 명령과 조건을 기록한다.

기능 시험의 범위는 실제 실행한 동작과 관찰한 출력으로 정해진다.

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.

파라미터 시험은 전압·전류·저항·시간 등 전기적 특성을 수치로 측정하여 기준과 비교하는 시험이다.