웨이퍼 프로브 테스트
Wafer probe testing
웨이퍼 소트웨이퍼 프로브
프로브 테스트는 분리 전 웨이퍼의 각 에 전기적으로 접촉해 제품 기능과 특성을 평가하는 시험이다.
설명
프로브 카드가 패드 등에 닿고 시험기가 자극과 응답을 비교한다. 접촉 상태가 불안정하면 제품 불량과 측정 접촉 문제를 구분해야 한다.
예시
동일 위치에서 반복 불합격이 나면 공정 결함뿐 아니라 프로브 접촉·패드 상태도 함께 확인한다. 시험 결과는 시험 조건과 접촉 품질을 포함해 해석한다.
구분
합격 판정에는 제품 동작과 정상적인 시험 접촉이라는 두 전제가 필요하다.