용어검색/반도체이득 오차Gain error팩별 설명반도체 테스트 L1반도체 테스트 L2이득 오차는 오프셋 영향을 분리한 뒤 실제 변환 특성의 기울기가 이상값에서 벗어난 정도다.정의 복사관련 학습 ↓설명입력이 커질수록 오차가 비례해 커지는 모습으로 나타날 수 있다. 기준 전압과 신호원의 크기 정확도도 확인해야 한다.예시낮은 입력에서는 거의 맞지만 높은 입력에서 차이가 커지면 기울기와 기준 전압을 점검한다.구분변환 비율의 차이를 보려면 여러 입력 수준이 필요하다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.과검출↗과검출은 실제 요구사항을 만족하는 양품을 시험이 불량으로 판정하는 현상이다.웨이퍼 테스트↗웨이퍼 테스트는 다이가 웨이퍼에 붙어 있는 상태에서 프로브로 접촉하여 전기적으로 시험하는 단계다.이전 용어← 오프셋 오차다음 용어DNL →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개