웨이퍼 테스트
Wafer sort
Wafer test웨이퍼 소트
웨이퍼 테스트는 다이가 웨이퍼에 붙어 있는 상태에서 프로브로 접촉하여 전기적으로 시험하는 단계다.
설명
합격 다이를 선별하고 위치별 결과를 에 기록한다. 조립 전에 명백한 불량을 골라 후속 공정의 비용 낭비를 줄일 수 있다.
예시
접촉 수, 전류 공급, 열 제어 등의 제약으로 패키지 시험과 동일한 조건을 모두 적용하기 어려울 수 있다. 가능한 검출 범위는 제품마다 다르다.
구분
조립 전 선별의 가치와 웨이퍼 상태의 접근 제약을 함께 본다.