설명
온도에 따라 속도, 누설, 타이밍 마진이 달라질 수 있어 automotive·메모리 등에서 특히 중요하다.
전기 신호를 증폭하거나 스위칭하는 반도체 소자. 디지털 IC에서는 매우 많은 트랜지스터가 논리 동작을 만든다.
용어 상세 ↗예시
테스트에서 를 고온/저온 조건으로 바꿔 합격/불합격이 안정적으로 유지되는지 확인한다.
관련 용어: /
여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗웨이퍼 위에 만들어진 개별 집적회로 단위. 웨이퍼를 웨이퍼 다이싱하면 각각의 다이로 분리된다.
용어 상세 ↗웨이퍼 상태의 다이에 응력 조건을 가해 잠재적인 초기 불량을 조기에 드러내고 신뢰성 위험을 선별하는 테스트 단계.
용어 상세 ↗정해진 사용 조건과 기간 동안 제품·소자·장비가 요구 기능을 고장 없이 수행할 가능성과 그 성능을 평가하는 개념.
용어 상세 ↗구분
고온/저온 테스트는 온도조건별 전기적 테스트이고 는 초기 불량을 드러내기 위한 장시간 응력 선별 개념이 더 강하다.
웨이퍼 상태의 다이에 응력 조건을 가해 잠재적인 초기 불량을 조기에 드러내고 신뢰성 위험을 선별하는 테스트 단계.
용어 상세 ↗