웨이퍼 번인(WBI)
Wafer Burn-In
Wafer Burn-In (WBI)웨이퍼 번인WBI
상태의 에 응력 조건을 가해 잠재적인 초기 불량을 조기에 드러내고 위험을 선별하는 테스트 단계.
설명
번인은 모든 제품에 같은 조건을 적용하는 단순 가열이 아니라 제품 퀄리피케이션과 선별 목적의 응력 테스트라는 점이 중요하다.
예시
-수준 번인 후 불안정한 를 조기에 찾아 패키지 비용이 투입되기 전에 제외할 수 있다. 관련 용어: / /
전기적 다이 선별
웨이퍼 제조가 끝난 뒤 각 다이의 전기적 동작과 특성을 검사해 정상 다이와 불량 다이를 선별하고, 가능한 경우 다이 리페어까지 수행하는 웨이퍼-수준 테스트 공정.
용어 상세구분
WBI는 단계 응력 선별이고 패키지/소자 번인은 이후에 수행될 수도 있다.