용어검색/반도체적분 시간Integration time적분 시간은 계측기가 신호를 일정 시간 누적·평균하여 하나의 측정값을 만드는 시간이다.정의 복사관련 학습 ↓설명일반적으로 길게 잡으면 일부 잡음을 줄일 수 있지만 시험 시간이 늘고 빠른 변화를 평탄화한다. 안정화 대기와는 다른 설정이다.예시대기를 늘려 과도응답을 피하는 것과 적분을 늘려 잡음을 줄이는 것은 목적이 다르다. 원인에 맞는 변수를 조정한다.구분기다리는 시간과 읽어서 평균 내는 시간을 구분한다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.기능 시험↗기능 시험은 정해진 입력에 대해 DUT가 요구된 동작과 출력을 수행하는지 확인하는 시험이다.테스트 삽입 지점↗테스트 삽입 지점은 제조 흐름 중 시험을 수행하도록 정한 위치와 단계다.이전 용어← 안정화 시간반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개