용어검색/반도체분해능Resolution분해능은 측정시스템이 구분해 표현할 수 있는 가장 작은 변화 수준이다.정의 복사관련 학습 ↓설명표시 자릿수가 많다는 것만으로 작은 차이를 정확히 구별하는 것은 아니다. 잡음과 실제 반복성도 함께 확인한다.반복성반복성은 같은 조건에서 같은 대상을 반복 측정할 때 결과가 서로 가까운 정도다.용어 상세 ↗예시소프트웨어가 0.001nm까지 표시하더라도 실제 반복 산포가 1nm라면 표시 숫자만으로 미세 개선을 주장할 수 없다.구분표시 정밀도와 유효한 측정 능력을 구분한다.함께 배우는 용어반복성↗반복성은 같은 조건에서 같은 대상을 반복 측정할 때 결과가 서로 가까운 정도다.유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.이전 용어← 재현성다음 용어교정 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개