용어검색/반도체반복성Repeatability팩별 설명반도체 장비 L1반도체 수율·불량 L1반도체 테스트 L1반도체 소재 L1반도체 공정 L2반도체 패키징·HBM L2반도체 수율·불량 L2반도체 테스트 L2반도체 클린룸·오염관리 L2Fab 자동화·MES L2반복성은 같은 조건에서 같은 대상을 반복 측정할 때 결과가 서로 가까운 정도다.정의 복사관련 학습 ↓설명장비·작업자·방법·짧은 시간 조건 등을 가능한 한 유지해 측정 자체의 흔들림을 본다. 시료가 측정 중 변하지 않아야 해석이 쉽다.예시한 다이의 같은 지점을 연속 측정한 값이 크게 흔들리면 제품 간 비교보다 측정 안정화가 먼저일 수 있다.구분반복 측정의 산포를 제품 간 차이와 구분한다.함께 배우는 용어유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.명시야 검사↗명시야 검사는 주로 정반사 성분을 포함한 밝은 배경 영상의 차이로 이상을 찾는 광학 방식이다.이전 용어← 측정 편향다음 용어재현성 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개