용어검색/반도체표준편차Standard deviation팩별 설명반도체 용어 L1반도체 수율·불량 L1반도체 테스트 L1반도체 계측·검사 L1표준편차는 값들이 평균 주변에 얼마나 퍼져 있는지를 원래 측정값과 같은 단위로 나타내는 지표다.정의 복사관련 학습 ↓설명분산의 제곱근이며 값이 클수록 산포가 크다. 표본으로 추정할 때의 계산 방식과 하위집단 정의를 일관되게 사용한다.예시선폭 평균 100nm가 같아도 표준편차가 1nm와 4nm인 집단의 규격 이탈 위험은 다를 수 있다.구분평균 이동과 산포 증가를 서로 다른 문제로 읽는다.함께 배우는 용어유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.결함 검사↗결함 검사는 정해진 영역에서 이상 신호나 구조를 찾아 후보 위치를 추출하는 활동이다.이전 용어← 공정 경로다음 용어히스토그램 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개