용어검색/반도체시료 대전Charging팩별 설명반도체 수율·불량 L1반도체 계측·검사 L1반도체 계측·검사 L2시료 대전은 입사·방출 전하의 불균형으로 시료에 전하가 축적되는 현상이다.정의 복사관련 학습 ↓설명절연성이 큰 부분에서 영상 왜곡이나 밝기 변화를 일으킬 수 있다. 실제 결함과 측정 중 생긴 효과를 나누어 보아야 한다.예시반복 주사할수록 영상이 변하면 원래 구조 변화뿐 아니라 대전이나 빔 영향도 의심한다. 첫 관측 조건과 순서를 보존한다.구분관찰 행위가 시료와 신호를 바꿀 수 있다.함께 배우는 용어로트↗로트는 제조와 추적을 위해 함께 관리하는 웨이퍼나 제품의 묶음이다.유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.이전 용어← 전압 대비다음 용어CD-SEM →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개