누적 조사량
Cumulative Exposure
누적 조사량은 시료가 여러 검사 동안 받은 방사선 영향을 누적으로 다루는 개념이다.
설명
민감한 전자부품은 조사 조건과 누적 이력에 따라 영향을 받을 수 있다. 영상검사가 비파괴 방식이라는 표현이 무한 반복 안전을 뜻하지는 않는다.
예시
같은 보드를 여러 차례 정밀 촬영해야 한다면 승인된 검사 조건과 부품의 허용 조건을 확인하고 횟수·조건을 기록한다.
구분
모든 반도체에 공통인 안전 조사값을 임의로 설정하지 않는다.