용어검색/반도체결함 커버리지Fault coverage팩별 설명반도체 테스트 L1반도체 테스트 L2결함 커버리지는 정의한 결함 집합 중 검출했다고 집계한 결함의 비율이다.정의 복사관련 학습 ↓설명검출 불가능 결함을 분모에 포함하는지, 결함을 어떻게 분류하는지에 따라 수치가 달라질 수 있다. 도구의 보고 정의를 먼저 읽는다.예시가상 결함 1,000개 중 950개 검출이면 전체 집합 기준 95%다. 이 값은 출하품 95%의 무고장을 뜻하지 않는다.구분비율 앞에 모델·분모·분류 규칙을 붙여 해석한다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.기능 시험↗기능 시험은 정해진 입력에 대해 DUT가 요구된 동작과 출력을 수행하는지 확인하는 시험이다.테스트 삽입 지점↗테스트 삽입 지점은 제조 흐름 중 시험을 수행하도록 정한 위치와 단계다.이전 용어← 브리징 결함반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개