용어검색/반도체결함 모델Fault model결함 모델은 실제 물리 결함의 전기적 영향을 계산 가능한 형태로 단순화한 표현이다.정의 복사관련 학습 ↓설명한 노드가 0에 고정되거나 신호 전이가 늦어지는 모델처럼 예상 오류를 정한다. 실제 결함의 모든 형태와 조건을 완전히 복제하지는 않는다.예시한 모델의 높은 검출률이 다른 종류의 지연·아날로그 결함까지 보장하지는 않는다.구분모델이 표현하는 현상과 표현하지 못하는 현상을 구분한다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.기능 시험↗기능 시험은 정해진 입력에 대해 DUT가 요구된 동작과 출력을 수행하는지 확인하는 시험이다.테스트 삽입 지점↗테스트 삽입 지점은 제조 흐름 중 시험을 수행하도록 정한 위치와 단계다.이전 용어← ATPG다음 용어고정 결함 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개