ATPG
Automatic Test Pattern Generation
자동 테스트 패턴 생성
ATPG는 회로 구조와 을 이용해 결함을 검출할 시험 패턴을 자동 생성하는 방법이다.
설명
어떤 내부 상태를 만들고 어떤 결과를 관찰할지 계산한다. 생성한 패턴은 핀·모드·클록 등 실제 장비 조건에 맞게 검증해야 한다.
예시
자동 생성 결과가 있어도 패턴 변환 과정에서 마스킹이나 타이밍이 바뀌면 실제 검출 범위가 달라질 수 있다.
구분
생성 보고서와 실리콘에서 실행한 시험의 연결을 유지한다.