기능 불량
Functional failure
기능 불량은 정해진 입력이나 동작 순서에서 기대한 논리·회로 기능을 수행하지 못하는 상태다.
설명
메모리 읽기 오류나 연산 결과 오류처럼 동작으로 드러난다. 동일한 실패 패턴도 연결 , 타이밍 부족, 시험 조건 문제로 발생할 수 있다.
예시
특정 메모리 주소에서 반복 오류가 나면 주소 패턴과 회로 위치를 연결한다. 그 기록만으로 저장 셀 자체의 결함이라고 확정하지 않는다.
구분
기능 시험은 실패를 찾고, 추가 분석은 실패 경로를 좁힌다.