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특성 불량

Parametric failure

팩별 설명

특성 불량은 회로가 일부 동작하더라도 전류·저항·속도 같은 수치가 규격을 벗어난 상태다.

설명

공정 편차가 특성 분포를 이동시키거나 넓히면 극단의 칩이 불합격될 수 있다. 눈에 띄는 입자가 반드시 존재하는 것은 아니다.

모든 논리 기능은 통과하지만 최대 동작 속도를 만족하지 못한 칩은 특성 불량 또는 다른 성능 등급의 대상이 될 수 있다.

형상 이 안 보여도 수치 분포와 공정 조건을 조사한다.

결함

결함은 재료·형상·구조 등이 의도한 상태에서 벗어난 국소적 이상이다.

결함은 재료·형상·구조 등이 의도한 상태에서 벗어난 국소적 이상이다.

수율은 정해진 평가 대상 중 정해진 합격 기준을 만족한 대상의 비율이다.

로트는 제조와 추적을 위해 함께 관리하는 웨이퍼나 제품의 묶음이다.