WAT
Wafer acceptance test
WAT는 의 공정 상태를 평가하기 위해 지정된 시험 구조의 전기특성을 측정하는 검사다.
설명
제품 회로와 별도로 만든 구조에서 트랜지스터·저항·연결 특성을 살핀다. 구조와 위치가 제품 전체를 완전히 대표하지는 않는다.
예시
스크라이브 라인의 시험 구조가 합격해도 특정 다이 내부의 국소 브리지는 남을 수 있다. WAT와 제품 시험을 상호 보완한다.
구분
공정 대표 구조의 합격을 모든 칩의 합격으로 바꾸지 않는다.