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웨이퍼 맵

Wafer map

팩별 설명

웨이퍼 맵은 다이의 물리적 좌표에 시험 결과와 분류 정보를 대응시킨 데이터다.

설명

원점, 축 방향, 노치 방향, 제외 위치가 맞아야 후속 다이 선택이 정확해진다. 같은 그림처럼 보여도 좌표 규약이 다르면 다른 제품을 가리킬 수 있다.

검사 장비와 조립 장비의 맵 방향이 반대라면 합격 다이를 잘못 선택할 위험이 있다. 대표 좌표를 물리 위치와 대조한다.

맵의 색상보다 좌표와 분류 규약의 일치가 먼저다.

반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

파라미터 시험은 전압·전류·저항·시간 등 전기적 특성을 수치로 측정하여 기준과 비교하는 시험이다.